1. 步入式高低溫交變濕熱室，可對一二次成套聯(lián)調設備、環(huán)網箱、配電箱等大型設備和材料進行高、低溫以及不同濕度環(huán)境和陽光輻射環(huán)境下存儲、運輸和使用時的適用性測試，以評估產品的工作性能。

2. 步入式高低溫實驗室主要由內箱、外箱、保溫層、送風循環(huán)系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)和電路控制系統(tǒng)組成，其中內箱為 1.2mm 厚不銹鋼板，箱體頂部具有機械式防爆泄壓口（試驗樣品包含鋰電池換電柜）；外箱為耐高低溫防靜電噴塑鋼板，外箱涂層耐腐蝕防刮傷；中間保溫層為高強度 PU 發(fā)泡與高密度玻璃纖維棉。加熱系統(tǒng)采用熱風循環(huán)加熱方式制熱；制冷系統(tǒng)制冷方式為水冷型，冷卻塔和制冷機組放置于室外，加熱制冷系統(tǒng)由微電腦控制器控制。電路控制系統(tǒng)主要對高低溫室起控制、監(jiān)視保護作用。

3. 步入式高低溫交變實驗室內預留有氙氣燈墻（氙燈掛鉤及風冷接口），可對被試產品進行陽光輻射試驗。

4.節(jié)能設計:采用 PID+PWM 原理的 VRF（制冷劑流量控制）技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行配備冷控制 PID 自動調節(jié)技術（在線性降溫和低溫恒溫過程中，通過冷控制 PID 調節(jié)制冷輸出量達到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術）采用該模式的設計相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 30%以上.

芯片恒溫恒濕老化實驗室是一種專門用于模擬恒定溫度和濕度環(huán)境下對芯片進行老化測試的設施。其主要功能是評估芯片在恒溫恒濕條件下的性能和可靠性，以驗證其在實際使用中的穩(wěn)定性和耐久性。

以下是恒溫恒濕老化實驗室的主要特點和功能：

恒溫恒濕控制：試驗室配備了精密的溫濕度控制系統(tǒng)，能夠精確地控制和維持試驗室內部的恒定溫度和濕度。這對于模擬真實場景下的恒溫恒濕環(huán)境非常重要，以準確評估芯片在不同溫濕度條件下的性能和可靠性。

長時間測試：芯片恒濕老化實驗室通常需要進行長時間的測試，以模擬芯片在恒溫恒濕條件下的長期使用情況。這有助于檢測芯片在不同溫濕度環(huán)境下的性能衰減和故障概率。

數據記錄與監(jiān)控：實驗室配備了數據記錄和監(jiān)控系統(tǒng)，可以實時記錄和監(jiān)測測試過程中的溫度、濕度等參數。這些數據可以用于后續(xù)分析和評估芯片在恒溫恒濕條件下的性能變化和可靠性。

安全措施：恒溫恒濕老化實驗室還應具備相應的安全措施，以確保試驗人員和設備的安全。這可能包括防火、緊急停止按鈕、溫濕度異常報警系統(tǒng)等。

通過使用芯片恒溫恒濕老化實驗室，芯片制造商和研發(fā)機構可以更好地了解其產品在不同溫濕度條件下的表現(xiàn)，并采取相應措施改進設計和提高可靠性。這對于保證芯片產品的品質和壽命非常重要。